PANalytical Empyrean – เครื่องวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซเรย์ (XRD)

เครื่อง Empyrean เป็นเครื่องวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซเรย์ โดยสามารถวัดได้กับตัวอย่างที่เป็นผง ฟิลม์บาง วัสดุระดับนาโน และของแข็ง และสามารถใช้ได้กับแอพลิเคชั่นต่างๆดังต่อไปนี้

• การวิเคราะห์หาชนิดและปริมาณของเฟส
• การคำนวณและระบุโครงสร้าง และ ผลึกคริสตัล
• การวิเคราะห์ In-situ crystallization
• การวิเคราะห์ High-throughput screening (HTS)
• การหาปริมาณของ Phase ID ด้วยเทคนิค XRD (WAXS)
• การวิเคราะห์ หาขนาดของ strain
• เทคนิค Small-angle X-ray scattering (SAXS)
• เทคนิค Transmission diffraction at low angles
• การวิเคราะห์แบบ Pair distribution function (PDF)
• การระบุเฟส รวมถึงการทำ depth profiling
• เทคนิค X-ray reflectometry
• การวิเคราะห์ stress ของ Thin film
• การวิเคราะห์ Orientation
• เทคนิค In-plane diffraction
• การวิเคราะห์ Epitaxial layer
• การทำ Reciprocal space mapping
• การทำ Computed tomography (CT), radiography
• เทคนิค Micro-diffraction
• การวิเคราะห์ Texture
• การวิเคราะห์ Stress
• เทคนิค Combined SAXS / WAXS