Malvern Panalytical

• วัดขนาดอนุภาคโดยใช้เทคนิคการเลี้ยวเบนของแสง
• ช่วงการวัดขนาด 0.01 ถึง 3500 ไมโครเมตรโดยไม่ต้องเปลี่ยนชุด Optic ใดๆ
• อ้างอิงตามทฤษฎี Mie กับ Frauhofer
• อ้างอิงตามมาตรฐาน ISO 13320:2009 และ USP <429>
• แหล่งกำเนิดแสงสีแดงมีความยาวคลื่น 632.8 นาโนเมตร
• แหล่งกำเนิดแสงสีน้ำเงินมีความยาวคลื่น 470 นาโนเมตร แต่ละแหล่งกำเนิดแสงจะทำให้แน่ใจได้ว่าสามารถวัดขนาดได้ต่ำกว่าไมครอน
• มีชุดเตรียมตัวอย่างแบบเปียก
• มีชุดเตรียมตัวอย่างแบบแห้ง

• วัดขนาดอนุภาคโดยใช้เทคนิคการเลี้ยวเบนของแสง
• ช่วงการวัดขนาด 0.1 ถึง 1,000 ไมโครเมตร โดยไม่ต้องเปลี่ยนชุด Optic ใดๆ
• อ้างอิงตามทฤษฎี Mie กับ Frauhofer
• อ้างอิงตามมาตรฐาน ISO 13320:2009 และ USP <429>
• แหล่งกำเนิดแสงสีแดงมีความยาวคลื่น 632.8 นาโนเมตร
• มีชุดเตรียมตัวอย่างแบบเปียก
• มีชุดเตรียมตัวอย่างแบบแห้ง

• วัดขนาดอนุภาคด้วยเทคนิค Laser Light Scattering
• ช่วงการวัดขนาด 0.1 ถึง 900 ไมโครเมตร (ใช้เลนส์ขนาด 300 มิลลิเมตร) ช่วงการวัดขนาด 2 ถึง 2000 ไมโครเมตร (ใช้เลนส์ขนาด 750 มิลลิเมตร)
• อ้างอิงตามทฤษฎี Mie กับ Frauhofer
• ความเร็วการประมวลผล: 10 kHz, 1 kHz
• เหมาะกับงานทางด้านการวัดขนาดของ Aerosol, Inhaler and nebulizer, Nasal Spray and Atomizer

เครื่องตรวจวิเคราะห์ด้วยระบบ GPC/SEC ที่ดีที่สุด
OMNISEC คือเครื่องเจลเพอร์มีเอชันโครมาโทกราฟี(GPC) หรือไซด์เอกซ์คลูชันโครมาโทกราฟี (SEC) เป็นเทคนิคการแยก โดยอาศัยความแตกต่างของขนาดโมเลกุลในการแยก สามารถวิเคราะห์หาน้ำหนักโมเลกุลแท้จริง ขนาดโมเลกุล ความหนืด โมเลกุลที่มีกิ่งก้าน และพารามิเตอร์อื่นๆ มาพร้อมกับ OMNISEC REVOLVE ที่มีตัวตรวจวัดหลายชนิด (Multi-detector) และมีโปรแกรมวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะของพอลิเมอร์และโปรตีน ทั้งที่ผ่านการสังเคราะห์และมีอยู่ตามธรรมชาติ

เครื่อง Empyrean เป็นเครื่องวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซเรย์ โดยสามารถวัดได้กับตัวอย่างที่เป็นผง ฟิลม์บาง วัสดุระดับนาโน และของแข็ง และสามารถใช้ได้กับแอพลิเคชั่นต่างๆดังต่อไปนี้

• การวิเคราะห์หาชนิดและปริมาณของเฟส
• การคำนวณและระบุโครงสร้าง และ ผลึกคริสตัล
• การวิเคราะห์ In-situ crystallization
• การวิเคราะห์ High-throughput screening (HTS)
• การหาปริมาณของ Phase ID ด้วยเทคนิค XRD (WAXS)
• การวิเคราะห์ หาขนาดของ strain
• เทคนิค Small-angle X-ray scattering (SAXS)
• เทคนิค Transmission diffraction at low angles
• การวิเคราะห์แบบ Pair distribution function (PDF)
• การระบุเฟส รวมถึงการทำ depth profiling
• เทคนิค X-ray reflectometry
• การวิเคราะห์ stress ของ Thin film
• การวิเคราะห์ Orientation
• เทคนิค In-plane diffraction
• การวิเคราะห์ Epitaxial layer
• การทำ Reciprocal space mapping
• การทำ Computed tomography (CT), radiography
• เทคนิค Micro-diffraction
• การวิเคราะห์ Texture
• การวิเคราะห์ Stress
• เทคนิค Combined SAXS / WAXS

เครื่อง Epsilon 1 เป็นเครื่อง EDXRF แบบตั้งโต๊ะขนาดเล็ก ภายในตัวเครื่องประกอบด้วยชุดคอมพิวเตอร์ ใช้งานผ่านหน้าจอสัมผัส ใช้วิเคราะห์ธาตุในตัวอย่าง ได้ตั้งแต่ โซเดียม Na ไปจนถึง แอมเมอริเซียม Am
ด้วยซอฟแวร์ที่ได้รับการสอบเทียบและรับรองประสิทธิภาพมาจากโรงงาน เครื่องรุ่นนี้ออกแบบให้ใช้งานง่าย รวดเร็ว ให้ผลถูกต้อง แม่นยำ ขั้นตอนการเตรียมตัวอย่างน้อย และมีค่าใช้จ่ายในการวิเคราะห์ตัวอย่างต่ำ เมื่อเทียบกับการวิเคราะห์ด้วยเทคนิคแบบอื่น เช่น AAS, ICP และการวิเคราะห์ทางห้องปฏิบัติการเคมี
เครื่อง Epsilon 1 นี้ สามารถใช้กับแอพลิเคชั่นในการวิเคราะห์งานต่างๆ ดังนี้

• การหาปริมาณซัลเฟอร์ในเชื้อเพลิง ตามมาตรฐาน ASTM D4294 และ ISO 20847
• การหาปริมาณ Additive ในน้ำมันหล่อลื่น ตามมาตรฐาน ASTM D6481
• การวิเคราะห์หาโลหะในนมผง
• ใช้ในงานวิจัยและงานของสถาบันการศึกษา
• งานเหมืองแร่

เครื่อง Zetium เป็นเครื่อง WDXRF สำหรับวิเคราะห์ธาตุในตัวอย่าง ที่หลากหลาย ตั้งแต่ วัสดุที่เป็นของแข็ง ของเหลว ไปจนถึง ตัวอย่างที่เป็นผง ถูกออกแบบให้ใช้งานได้ดี ในการควบคุมคุณภาพในการผลิตของภาคอุตสาหกรรม รวมถึงงานวิจัยและพัฒนาด้วย โดยสามารถวิเคราะห์ธาตุได้ตั้งแต่ระดับเปอร์เซ็นต์ จนต่ำสุดถึงระดับ ppm และวิเคราะห์ได้ตั้งแต่ธาตุ แบริเรี่ยม Be ไปจนถึง แอมเมอริเซียม Am

จากประสบการณ์และความสำเร็จในการผลิตเครื่อง WDXRF ของทางบริษํท PANalytical ถูกนำมาพัฒนาเครื่องรุ่น Zetium นี้ ด้วยเทคโนโลยีใหม่ที่เรียกว่า SumXcore เทคโนโลยี โดยเป็นการนำเทคนิค WDXRF, EDXRF และ XRD มารวมกันเข้าเป็นเครื่องเดียวกัน ทำให้เครื่องรุ่นนี้ให้ผลการวิเคราะห์ที่รวดเร็วมาก และค่าที่ได้ถูกต้อง ครอบคลุม และใช้ได้กับแอพลิเคชั่นที่หลากหลายอีกด้วย